КОНФОКАЛЬНАЯ РАМАНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ |
Рамановский эффект был открыт в 1928 году индийским ученым Раманом, который продемонстрировал неэластичное рассеяние монохроматического света в вязкой жидкости. За это открытие Раман получил нобелевскую премию.
В настоящее время техника получения рамановских спектров широко используется в физике и химии конденсированного состояния для исследования вращательного, вибрационного и других низкочастотных режимов нахождения вещества.
В современной конфокальной Рамановской микроскопии источник когерентного излучения подсвечивает образец как показано на схеме ниже. Обычно используют лазеры с длинами волн 532 и 355 нм и HeNe-лазер с длиной волны 632,8 нм. Излучение фокусируется на образце при помощи объектива. Для элиминации эластично-рассеяного света от образца (Рэлеевское рассеяние) обратно-рассеяное излучение спектрально фильтруют, а остающийся сигнал после прохождения блокирующей апертуры попадает на спектрометр, где рамановский спектр записывают и анализируют.
attoRAMAN
Появление таких материалов как Графен, высокотемпературные сверхпроводники и других привело к требованиям проведения рамановской микроскопии при низких и сверхнизких температурах и высоких магнитных полях. Рамановский микроскоп компании attoCube идеально соответствует этим требованиям и позволяет пользователю получать спектры в диапазоне температур 1,8 -300 К и в магнитных полях до 15 Тесла.
Брошюра на англ.языке: Raman_Measurements_Results.pdf
Основные выпускаемые инструменты компании attocube:
- Атомно-силовая микроскопия AFM
- Сканирующая туннельная микроскопия STM
- Конфокальная микроскопия CFM
- Ближнепольная оптическая сканирующая микроскопия SNOM
- Магнито-силовая микроскопия MFM
- Сканирующая Холловская микроскопия SHPM
Выпускаемые продукты и компоненты:
- Нанопозиционеры
- Контроллеры
Дополнительная информация.
Избранные примеры применений разных типов микроскопии от attocube:
- Измерение фотолюминесценции квантовых точек
- Диссипация в оптомеханических резонаторах_МЕМС
- Применения сканирующей холловской микроскопии
- AFM_STM Измерения изображения вортексов в образце NbSe2
- Измерение фототока в Графене
- AFM_применения
- AFM_характеризация резиста
- AFM-STM измерения при 300 мК
- CFM_Низкотемпературные Рамановские измерения на слоях Графена
- Пространственное картирование углеродных нанотрубок
- Спектроскопия квантовых точек
Запрос на интересующее оборудование Вы можете прислать нам по адресу: tech@cryosystems.ru или по факсу +7 (495) 663-3039 для отдела оборудования для микро- и наноэлектроники и мы вышлем Вам коммерческое предложение или предоставим дополнительную информацию в разумные сроки.