+7 (495) 663-30-39
+7 (495) 663-30-67
tech@cryosystems-mve.ru


TOF-SIMS SurfaceSeerKORE Technology

Время-пролетный масс-спектрометр на вторичных ионах для исследования твердых проводящих/непроводящих образцов


TOF-SIMS SurfaceSeer

Английская компания KORE спроектировала и серийно производит новый компактный инструмент TOF-SIMS который является мощным прибором для исследования поверхности любых материалов для заказчиков из разных областей промышленности и науки по цене примерно в 3 раза меньшей, чем исследовательские приборы класса Hi-End. Данный инструмент спроектирован как «рабочая лошадка» для спектроскопистов для обоих режимов работы: негативном и позитивном, имеет высокое разрешение, более чем 2000 и точность по массе около 5 х 10-3 а.е.м.

Особенности:


  • Анализ поверхности методом ВИМС.
  • Поверхностная масс-спектрометрия.
  • Анализ проводников и диэлектриков.
  • Анализ положительных и отрицательных вторичных ионов.
  • Разрешение лучше чем 2000 M/ΔM (возможно до 3000 ).
  • Анализатор типа Рефлектрон.
  • Диапазон исследуемых масс >1000m/z.
  • Возможность распыления образца для очистки поверхности.
  • 5 мин откачки для начала анализа образца.
  • Пролучение спектра образца в течение менее минуты.
  • Компактный прибор.
  • Очень доступная цена.
  • Есть возможность дооснащения

Брошюра на русском языке: SurfaceSeer_prospekt.pdf


Основные системы компании KORE Technology:


Дополнительная информация:


Анализ поверхности образцов методами времяпролетной масс-спектроскопии

Анализируем спектры



Запрос на интересующее оборудование Вы можете прислать нам по адресу: tech@cryosystems.ru или по факсу +7 (495) 663-3039 для отдела оборудования для микро- и наноэлектроники и мы вышлем Вам коммерческое предложение или предоставим дополнительную информацию в разумные сроки.

^ В НАЧАЛО