TOF-SIMS SurfaceSeerKORE Technology

Время-пролетный масс-спектрометр на вторичных ионах для исследования твердых проводящих/непроводящих образцов

Английская компания KORE спроектировала и серийно производит новый компактный инструмент TOF-SIMS который является мощным прибором для исследования поверхности любых материалов для заказчиков из разных областей промышленности и науки по цене примерно в 3 раза меньшей, чем исследовательские приборы класса Hi-End. Данный инструмент спроектирован как «рабочая лошадка» для спектроскопистов для обоих режимов работы: негативном и позитивном, имеет высокое разрешение, более чем 2000 и точность по массе около 5 х 10-3 а.е.м.

Особенности:

• Анализ поверхности методом ВИМС.
• Поверхностная масс-спектрометрия.
• Анализ проводников и диэлектриков.
• Анализ положительных и отрицательных вторичных ионов.
• Разрешение лучше чем 2000 M/ΔM (возможно до 3000 ).
• Анализатор типа Рефлектрон.
• Диапазон исследуемых масс >1000m/z.
• Возможность распыления образца для очистки поверхности.
• 5 мин откачки для начала анализа образца.
• Пролучение спектра образца в течение менее минуты.
• Компактный прибор.
• Очень доступная цена.
• Есть возможность дооснащения

Брошюра на русском языке: SurfaceSeer_prospekt.pdf

Основные системы компании KORE Technology:

• SurfaceSeer-S (http://www.kore.co.uk/surfaceseer.htm)
• PTR-TOFMS (http://www.kore.co.uk/ptrtof.htm)
• MS-200 (http://www.kore.co.uk/ms-200.htm)
• Photolysis TOFMS (http://www.kore.co.uk/1628.htm)

Дополнительная информация:

Анализ поверхности образцов методами времяпролетной масс-спектроскопии

Анализируем спектры

Запрос на интересующее оборудование Вы можете прислать нам по адресу: tech@cryosystems.ru или по факсу +7 (495) 663-3039 для отдела оборудования для микро- и наноэлектроники и мы вышлем Вам коммерческое предложение или предоставим дополнительную информацию в разумные сроки.